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技術(shù)文章

2025
10-22

便攜式合金分析儀的日常維護(hù)、保養(yǎng)與安全使用規(guī)范
一、日常維護(hù)清潔與外觀維護(hù)檢測(cè)窗口：每次使用后用柔軟無(wú)塵布輕擦，避免尖銳物品刮擦導(dǎo)致?lián)p壞。外殼：定期用濕布擦拭，去除灰塵和污垢，禁用強(qiáng)酸、強(qiáng)堿或有機(jī)溶劑，防止腐蝕或褪色。窗口膜更換：若測(cè)量尖銳或凸起樣品導(dǎo)致窗口膜破損，需及時(shí)更換。更換時(shí)卸下上下螺絲，打開(kāi)擋板撕下舊膜，換上新膜即可。校準(zhǔn)與軟件管理標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)：每3個(gè)月或根據(jù)使用頻率校準(zhǔn)一次，確保檢測(cè)準(zhǔn)確性。軟件更新：及時(shí)升級(jí)儀器軟件，修復(fù)潛在問(wèn)題，優(yōu)化性能。數(shù)據(jù)清理：定期刪除歷史數(shù)據(jù)，避免內(nèi)存占用影響運(yùn)行速度。二、保養(yǎng)要點(diǎn)電池...
2025
10-20

SEM掃描電子顯微鏡的工作原理與應(yīng)用領(lǐng)域
SEM掃描電子顯微鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，并通過(guò)檢測(cè)樣品表面與電子束相互作用所產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)獲得樣品微觀形貌的高分辨率顯微鏡。其高分辨率成像能力和多功能分析特性，使其在科學(xué)研究與工業(yè)檢測(cè)中發(fā)揮著重要作用。一、工作原理SEM掃描電子顯微鏡的基本工作原理是通過(guò)電子束掃描樣品表面，然后通過(guò)探測(cè)從樣品表面反射回來(lái)的信號(hào)（包括二次電子、背散射電子、X射線等），來(lái)形成圖像。這一過(guò)程可以分為以下幾個(gè)步驟：1、電子源：電子源通常使用熱陰極或場(chǎng)發(fā)射陰極，產(chǎn)生高能量的電子束。這些電子束通過(guò)...
2025
10-17

聚焦離子束顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
聚焦離子束顯微鏡是材料科學(xué)中一種重要的分析工具，它結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）和離子束技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料的表征、微加工以及三維結(jié)構(gòu)分析。它能夠在納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行精確的觀察和加工，對(duì)于理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能具有重要意義。聚焦離子束顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：一、材料表面與微觀結(jié)構(gòu)分析常見(jiàn)的應(yīng)用之一是對(duì)材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征。它能夠提供高分辨率的圖像，清晰地觀察到納米級(jí)的表面形貌、微結(jié)構(gòu)和缺陷。例如，在金屬材料的研究中，可以觀察到晶界、相界以及晶粒...
2025
10-14

FIB雙束掃描電鏡在納米材料研究中的應(yīng)用
FIB雙束掃描電鏡是結(jié)合了掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束技術(shù)的一種分析工具。它在納米材料研究中具有廣泛的應(yīng)用，能夠?qū){米尺度的材料進(jìn)行高分辨率的表征、加工和修飾，提供多角度、多層次的信息。不僅能進(jìn)行高精度的表面成像，還能夠進(jìn)行樣品的微加工和納米尺度的結(jié)構(gòu)改性，是納米技術(shù)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域中的重要工具。FIB雙束掃描電鏡在納米材料研究中的應(yīng)用，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1、納米結(jié)構(gòu)的表征與觀察：它能夠提供很高的分辨率，能夠清晰地觀察到納米級(jí)材料的表面形貌、微結(jié)構(gòu)和晶體缺陷。...
2025
10-11

智能型鎢燈絲掃描電鏡的工作原理與優(yōu)勢(shì)
智能型鎢燈絲掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，并通過(guò)分析反射或透過(guò)樣品的電子信號(hào)來(lái)獲取表面信息的顯微分析工具。鎢燈絲是掃描電鏡中常用的電子源，能夠提供高強(qiáng)度的電子束，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。一、工作原理智能型鎢燈絲掃描電鏡的工作原理主要涉及以下幾個(gè)步驟：1、電子束產(chǎn)生：電鏡的電子槍部分通過(guò)加熱鎢燈絲（或鎢絲）來(lái)發(fā)射電子。鎢作為一種高熔點(diǎn)材料，能夠在高溫下穩(wěn)定發(fā)射電子。加熱鎢燈絲后，熱電子被加速并集中成細(xì)小的電子束，電子束通過(guò)電場(chǎng)加速，獲得較高的動(dòng)能。...
2025
9-17

便攜式XRF合金分析儀工作原理深度解讀
便攜式XRF合金分析儀的核心工作原理基于X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)，其本質(zhì)是通過(guò)高能X射線激發(fā)金屬樣品中的原子，利用特征熒光光譜實(shí)現(xiàn)元素定性定量分析。具體過(guò)程可分為三個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)：一、X射線激發(fā)與電子躍遷儀器內(nèi)置微型X射線管（如硅漂移探測(cè)器SDD配套的4W微型光管）發(fā)射高能X射線，穿透樣品表層后撞擊原子內(nèi)層電子。以鐵原子為例，X射線光子能量足以擊出K層電子，使原子成為不穩(wěn)定離子。外層L層或M層電子為恢復(fù)穩(wěn)定，會(huì)躍遷填補(bǔ)內(nèi)層空位，并釋放出能量等于兩層電子能級(jí)差的二次X射線（即熒...
2025
9-14

高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在半導(dǎo)體制造中的作用
高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是現(xiàn)代半導(dǎo)體制造中的重要工具。它結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射源（FEG）和掃描電子顯微鏡（SEM）的優(yōu)勢(shì)，能夠提供高分辨率、高靈敏度的成像效果。高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的優(yōu)勢(shì)使其在半導(dǎo)體行業(yè)的各個(gè)階段，尤其是在微納米級(jí)結(jié)構(gòu)的研究與制造過(guò)程中，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。一、提高分辨率與成像精度半導(dǎo)體制造中，器件尺寸越來(lái)越小，納米尺度的特征要求顯微技術(shù)具備超高的分辨率通過(guò)場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生電子束，相較于傳統(tǒng)的熱陰極電子槍，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，能有效提高分辨率，達(dá)到納米級(jí)別...
2025
9-11

超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理及應(yīng)用
超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種基于場(chǎng)發(fā)射電子槍的掃描電子顯微鏡，其通過(guò)電子束掃描樣品表面并進(jìn)行成像，以高分辨率展示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的電子顯微鏡相比，它具有更高的分辨率、優(yōu)異的成像質(zhì)量和更強(qiáng)的分析能力。一、工作原理超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的核心技術(shù)是場(chǎng)發(fā)射電子槍。該電子槍利用強(qiáng)電場(chǎng)將電子從尖銳的金屬針尖上抽出，并加速這些電子形成電子束。與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子槍不同，能夠在較低的溫度下產(chǎn)生更細(xì)的電子束，這使得它能夠提供比傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡更高的分辨率。其工作過(guò)程如下：1、電子源發(fā)射...
2025
9-8

環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡在生物樣品觀察中的優(yōu)勢(shì)
環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種在氣體環(huán)境下進(jìn)行掃描電子顯微鏡觀察的技術(shù)。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它能夠在相對(duì)較低的真空或環(huán)境氣體下觀察生物樣品，因此特別適用于生物樣品、濕潤(rùn)樣品以及低真空條件下的研究。通常使用鎢燈絲作為電子槍源，它能夠提供高亮度的電子束，并且具有較好的穩(wěn)定性和較長(zhǎng)的使用壽命，廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、材料學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡特別適用于生物樣品的觀察，其優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1、保留樣品的自然狀態(tài)最大的優(yōu)勢(shì)之一是能夠在接近自然的濕度和溫度條件下...
2025
9-5

STEM透射電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用
透射電子顯微鏡和掃描透射電子顯微鏡是現(xiàn)代電子顯微學(xué)中非常重要的兩種技術(shù)。STEM透射電鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡（TEM）的優(yōu)點(diǎn)，在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用尤為廣泛，特別是在半導(dǎo)體材料、器件結(jié)構(gòu)以及缺陷分析等方面，具有重要的意義。以下是STEM透射電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的幾項(xiàng)關(guān)鍵應(yīng)用。一、半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)表征半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)對(duì)其性能至關(guān)重要。在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，材料的晶體質(zhì)量、晶界、缺陷等都直接影響最終產(chǎn)品的性能。它能夠提供原子級(jí)別的分辨率，是研究半導(dǎo)體材料微觀結(jié)構(gòu)的理...

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